Visualizing electronic properties of carbon nanotube devices by voltage contrast scanning electron microscopy
Vijayaraghavan, A.; Blatt, S.; Krupke, R.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230070925 |
| HGF-Programm | 43.02.03 (POF I, LK 01) Kontaktierung und Transport |
| Erscheinungsvermerk | Internat.Winterschool on Electronic Properties of Novel Materials (IWEPNM), Kirchberg, A, March 1-8, 2008 MRS Spring Meeting, San Francisco, Calif., March 24-28, 2008 |