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Visualizing electronic properties of carbon nanotube devices by voltage contrast scanning electron microscopy

Vijayaraghavan, A.; Blatt, S.; Krupke, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230070925
HGF-Programm 43.02.03 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Internat.Winterschool on Electronic Properties of Novel Materials (IWEPNM), Kirchberg, A, March 1-8, 2008 MRS Spring Meeting, San Francisco, Calif., March 24-28, 2008
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