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Conductance of gold nanojunctions thinned by electromigration

Hoffmann, R.; Weissenberger, D.; Hawecker, J.; Stöffler, D.; Löhneysen, H.von



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230071136
HGF-Programm 43.02.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 72.Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft und DPG Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik, Fachverband Tiefe Temperaturen, Berlin, 25.-29.Februar 2008 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.43(2008) TT 35.1
URLs Abstract (PDF)
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