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Photoelektronenspektroskopie zur Charakterisierung funktionaler Dünnschichten: Nanopartikel, Gradientenmembranen, Oberflächenmodifikationen

Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2008
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230071709
HGF-Programm 43.03.06 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk XPS-Seminar, Thermo-Electron GmbH, Dreieich, 9.April 2008
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