KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Stöchiometrische Verbindungen im Si-C-N-System: Dünnschichtsynthese und oberflächenanalytische Charakterisierung

Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2008
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230071788
HGF-Programm 43.03.06 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Vortr.: Technische Universität Kaiserslautern, 30.Mai 2008
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page