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Data acquisition system for W7-X coil testing in TOSKA

Heiduk, M.; Kopmann, A. ORCID iD icon; Chilingarian, S.; Fink, S.; Lange, C.; Möhring, T.; Fietz, W. H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230071841
HGF-Programm 31.20.70 (POF I, LK 01) MRS-Technik für ECRH an W7-X, Spulentest
Erscheinungsvermerk 25th Symp.on Fusion Technology (SOFT 2008), Rostock, September 15-19, 2008
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