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Simulation of X-ray reflectivity in order to study bicrystal interfaces

Gleiter, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230072355
HGF-Programm 43.03.06 (POF I, LK 01)
Erscheinungsvermerk Vortr.: Darwin University, Darwin, AUS, 5.Juni 2008
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