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The application of STXM to characterize natural organic matter (NOM) and NOM mineral interactions

Schäfer, T.; Michel, P.; Claret, F.; Reiller, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230073771
HGF-Programm 32.27.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 9th Internat.Conf.on X-Ray Microscopy (XRM 2008), Zürich, CH, July 21-25, 2008 Book of Abstracts
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