Effect of the interface roughness on the performance of nanoparticulate zinc oxide field-effect transistors

Okamura, K.; Mechau, N.; Nikolova, D.; Hahn, H.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2008
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230074063
HGF-Programm	43.03.10 (POF I, LK 01) Druckbare Elektronik
Erscheinungsvermerk	2nd Internat.Workshop on Semiconducting Nanoparticles for Photovoltaics and Optoelectronics, Duisburg, December 10-12, 2008