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Towards a quantitative understanding in electron tomography

Kübel, C.; Godehardt, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230074644
HGF-Programm 43.03.06 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Microscopy and Microanalysis 2009, Richmond, Va., July 26-30, 2009
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