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Effect of the interface roughness on the performance of nanoparticulate zinc oxide field-effect transistors

Okamura, K.; Mechau, N.; Nikolova, D.; Hahn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230074741
HGF-Programm 43.03.10 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk MRS Spring Meeting, San Francisco, Calif., April 13-17, 2009
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