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CURL 10 test program fault current limiters (FCL)

Noe, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230075235
HGF-Programm 34.03.02; LK 01
Erscheinungsvermerk CIGRE Workshop 'Test Techniques and Procedures for HTS Power Applications', Nagoya, J, May 13-15, 2009
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