Electron tomography
Kübel, C.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230075550 |
| HGF-Programm | 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
| Erscheinungsvermerk | Advanced Electron Microscopy School, Copenhagen, DK, and Göteborg, S, June 21 - July 4, 2009 |