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Photoelectric characterization of ZnO nanoparticles transistor assembled by dielectrophoresis

Yan, W.; Krupke, R.; Mechau, N.; Hahn, H.; Hou, X.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230075556
HGF-Programm 43.02.03 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk European Materials Research Society Spring Meeting, Strasbourg, F, May 26-30, 2008
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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