Scanning electron microscopy - a tool for nanotube device characterization and engineering
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230075563 |
| HGF-Programm | 43.02.03 (POF II, LK 01) Kontaktierung und Transport |
| Erscheinungsvermerk | European Materials Research Society Spring Meeting, Strasbourg, F, May 26-30, 2008 |