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Scanning electron microscopy - a tool for nanotube device characterization and engineering

Krupke, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230075563
HGF-Programm 43.02.03 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk European Materials Research Society Spring Meeting, Strasbourg, F, May 26-30, 2008
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