Micro- and nanoscale tensile testing using FIB and micromanipulator
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230075583 |
| HGF-Programm | 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
| Erscheinungsvermerk | Microscopy Conf.(MC 2009), Graz, A, August 30 - September 4, 2009 |