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Micro- and nanoscale tensile testing using FIB and micromanipulator

Scherer, T.; Zhong, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230075583
HGF-Programm 43.01.05 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Microscopy Conf.(MC 2009), Graz, A, August 30 - September 4, 2009
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