Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
Publikationstyp | Vortrag |
Publikationsjahr | 2009 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 230075788 |
HGF-Programm | 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
Erscheinungsvermerk | EMAL 40th Anniversary Symp, University of Michigan, Ann Arbor, Mich., October 19-20, 2009 |