| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230075788 |
| HGF-Programm | 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
| Erscheinungsvermerk | EMAL 40th Anniversary Symp, University of Michigan, Ann Arbor, Mich., October 19-20, 2009 |