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Reliability of test equipment and certification

Weiss, K.P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230076081
HGF-Programm 31.30.05 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk IEC-TC90 (Superconductivity) Working Group 5 Meeting, Andong, Korea, July 13-14, 2009
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