Reliability of test equipment and certification
Weiss, K. P.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230076081 |
| HGF-Programm | 31.30.05 (POF II, LK 01) Supral.Magnete und zugehör. Bauteile |
| Erscheinungsvermerk | IEC-TC90 (Superconductivity) Working Group 5 Meeting, Andong, Korea, July 13-14, 2009 |