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Development of dielectric properties measurement for industrial materials using a rectangular waveguide

Prastiyanto, D.; Feher, E.L.; Thumm, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230076578
HGF-Programm 34.04.01 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk KIT PhD Symp., Karlsruhe, 18.März 2009
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