KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Development of dielectric properties measurement for industrial materials using a rectangular waveguide

Prastiyanto, D.; Feher, E. L.; Thumm, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230076578
HGF-Programm 34.04.01 (POF II, LK 01) Mikrowellentechnik
Erscheinungsvermerk KIT PhD Symp., Karlsruhe, 18.März 2009
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page