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XPS-Charakterisierung nanoskaliger funktionaler Dünnschichten

Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230076695
HGF-Programm 43.01.05 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk ThermoFisher Scientific XPS-Seminar, Karlsruhe, 6.-7.Oktober 2009
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