Formation of low conductive constrictions in metallic structures by electromigration

Kiessig, B.; Cui, W.; Stöffler, D.; Hoffmann, R.; Grube, K.; Schäfer, R.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2009
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230076852
HGF-Programm	43.02.03 (POF II, LK 01) Kontaktierung und Transport
Erscheinungsvermerk	Quantum Measurement and Metrology with Solid State Devices : 445th WE Heraeus Seminar, Bad Honnef, November 1-5, 2009