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Formation of low conductive constrictions in metallic structures by electromigration

Kiessig, B.; Cui, W.; Stöffler, D.; Hoffmann, R.; Grube, K.; Schäfer, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230076852
HGF-Programm 43.02.03; LK 01
Erscheinungsvermerk Quantum Measurement and Metrology with Solid State Devices : 445th WE Heraeus Seminar, Bad Honnef, November 1-5, 2009
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