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Fatigue in Al thin films stressed at ultra-high frequencies

Courty, D.; Eberl, C.; Gnielka, T.; Ruile, W.; Kraft, O.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230077809
HGF-Programm 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erscheinungsvermerk Materials Research Society Fall Meeting, Boston, Mass., November 30 - December 4, 2009
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