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Synchrotron-based micro imaging using different contrast modalities for applications in materials research

Rack, A.; Zabler, S.; Stiller, M.; Knabe, C.; Dalügge, O.; Helfen, L.; Garcia Moreno, F.; Banhart, J.; Baumbach, T.; Danilewsky, A. N.; Ohser, J.; Schladitz, K.; Riesemeier, H.; Müller, B. R.; Goebbels, J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230078187
HGF-Programm 43.04.03 (POF II, LK 01) Röntgenoptik
Erscheinungsvermerk THERMEC 2009 : Internat.Conf.on Processing and Manufacturing of Advanced Materials, Berlin, August 25-29, 2009
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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