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In-situ observation of dislocations in Si at high temperatures wiht white beam X-ray topography

Danilewsky, A.N.; Wittge, J.; Hess, A.; Cröll, A.; Allen, D.; Vagovic, P.; Cecilia, A.; Li, Z.J.; Baumbach, T.; Gorostegui-Colinas, E.; Elizalde, M.



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seit 11.03.2019
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230078194
HGF-Programm 55.51.20 (POF II, LK 02)
Erscheinungsvermerk 17. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie (DGK), Hannover, 9.-12.März 2009
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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