In-situ observation of dislocations in Si at high temperatures wiht white beam X-ray topography
Danilewsky, A. N.; Wittge, J.; Hess, A.; Cröll, A.; Allen, D.; Vagovic, P.; Cecilia, A.; Li, Z. J.
; Baumbach, T.; Gorostegui-Colinas, E.; Elizalde, M.
; Baumbach, T.; Gorostegui-Colinas, E.; Elizalde, M.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230078194 |
| HGF-Programm | 55.51.20 (POF II, LK 02) Infrastr.u.Betrieb ANKA-Beschleunigeranl |
| Erscheinungsvermerk | 17. Jahrestagung der Deutschen Gesellschaft für Kristallographie (DGK), Hannover, 9.-12.März 2009 |