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Protrusions in a painting of Max Beckmann examined with confocal XRF

Simon, R.; Faubel, W.; Becker, H.; Schmidt, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230078203
HGF-Programm 43.03.06 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 58th Annual Conf.on Applications of X-ray Analysis : Denver X-ray Conf., Colorado Springs, Colo., July 27-31, 2009
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