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Thickness dependence of structure, microstructure and morphology in epitaxial Ni-Mn-Ga films

Backen, A.; Doyle, M.; Kohl, M.; Schultz, L.; Fähler, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230078285
HGF-Programm 43.13.01 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Materials Research Society Fall Meeting, Boston, Mass., November 30 - December 4, 2009
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