Leistungsfähigkeit und Grenzen von XPS: Charakterisierung nanoskaliger funktionaler Dünnschichten
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230078441 |
| HGF-Programm | 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
| Erscheinungsvermerk | Vortr.: Laboratorium für Elektronenmikroskopie, KIT, Karlsruhe, 18.Januar 2010 |