Röntgen-Photoelektronen Spektroskopie (XPS): Charakterisierung nanoskaliger funktionaler Dünnschichten
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230078877 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erscheinungsvermerk | Thermo Scientific Workshop Mikrospektroskopie 2010, Offenbach, 22.Februar 2010, Hannover, 24.Februar 2010, Leipzig, 26.Februar 2010, München, 2.März 2010 |