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Röntgen-Photoelektronen Spektroskopie (XPS): Charakterisierung nanoskaliger funktionaler Dünnschichten

Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2010
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230078877
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Erscheinungsvermerk Thermo Scientific Workshop Mikrospektroskopie 2010, Offenbach, 22.Februar 2010, Hannover, 24.Februar 2010, Leipzig, 26.Februar 2010, München, 2.März 2010
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