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Focused ion beam investigations on cement based materials in aggressive aqueous environments

Schwotzer, M.; Scherer, T.; Kübel, C.; Gerdes, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230078879
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Erscheinungsvermerk Microscopy and Microanalysis 2010 Meeting, Portland, Oreg., August 1-5, 2010
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