Focused ion beam investigations on cement based materials in aggressive aqueous environments

; Scherer, T.; Kübel, C.

; Gerdes, A.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG) Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230078879
HGF-Programm	43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erscheinungsvermerk	Microscopy and Microanalysis 2010 Meeting, Portland, Oreg., August 1-5, 2010