Microstructure analysis of tungsten materials produced by different fabrication routes

Scherer, T.; Jäntsch, U.; Kübel, C.

; Hoffmann, A.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1) Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230078883
HGF-Programm	43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erscheinungsvermerk	Materials Science and Engineering (MSE 2010), Darmstadt, August 24-26, 2010