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Microstructure analysis of tungsten materials produced by different fabrication routes

Scherer, T.; Jäntsch, U.; Kübel, C. ORCID iD icon; Rieth, M. ORCID iD icon; Hoffmann, A.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230078883
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erscheinungsvermerk Materials Science and Engineering (MSE 2010), Darmstadt, August 24-26, 2010
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