Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
Publikationstyp | Vortrag |
Publikationsjahr | 2010 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 230078963 |
HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
Erscheinungsvermerk | High Resolution Non-Invasive Damage Diagnostics and Predictive Modeling Workshop, Ruislip, GB, June 1-3, 2010 |