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Electron tomography and analytical (S)TEM as a tool to characterize the porosity and wetting behavior in model systems for hydrogen storage

Kübel, C. ORCID iD icon; Roth, A.; Wang, D. ORCID iD icon; Zhao-Karger, Z.; Fichtner, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230078965
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erscheinungsvermerk Materials Science and Engineering (MSE 2010), Darmstadt, August 24-26, 2010
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