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Statistics of voltage fluctuations in resistively shunted Josephson junction

Golubev, D.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230078980
HGF-Programm 43.11.02 (POF II, LK 01) Electronic transport in nanostructures
Erscheinungsvermerk Workshop 'Nanoelectronics : Concepts, Theory and Modeling', Bremen, May 17-21, 2010
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