KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Statistics of voltage fluctuations in resistively shunted Josephson junction

Golubev, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230078980
HGF-Programm 43.11.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Workshop 'Nanoelectronics : Concepts, Theory and Modeling', Bremen, May 17-21, 2010
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page