Characterization of ultra-thin films by low energy ion scattering (LEIS)

Brüner, P.; Grehl, T.; Möllers, R.; Niehuis, E.; Breitenstein, D.; Fartmann, M.; Hagenhoff, B.; Bruns, M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230080295
HGF-Programm	43.15.02 (POF II, LK 01) Storage of electrical energy
Erscheinungsvermerk	7th European Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS Europe 2010), Münster, September 19-21, 2010