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Characterization of ultra-thin films by low energy ion scattering (LEIS)

Brüner, P.; Grehl, T.; Möllers, R.; Niehuis, E.; Breitenstein, D.; Fartmann, M.; Hagenhoff, B.; Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230080295
HGF-Programm 43.15.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 7th European Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS Europe 2010), Münster, September 19-21, 2010
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