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Characterization of copper-metallized ZnO and brass surfaces with STM, SEM and XPS

Schott, V.; Wang, Z.; Silber, D.; Traeger, F.; Birkner, A.; Kroll, M.; Köhler, U.; Wöll, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230080427
HGF-Programm 43.11.03; LK 01
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung DPG, Fachverband Oberflächenphysik, Regensburg, 21.-26.März 2010 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.45(2010) O 68.5
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