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Surface analysis of air-sensitive and radioactive samples by XPS

Schild, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230080533
HGF-Programm 32.27.04 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk PHI European Users Meeting, Ochsenfurt, June 22-23, 2010
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