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Charakterisierung Eisen dotierter Ba₀̣₆Sr₀̣₄Ti₁₋ₓFeₓO₃ Dünnschichten

Stemme, F.; Gesswein, H.; Azucera, C.; Gliemann, H.; Binder, J.R.; Bruns, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2010
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 230080581
HGF-Programm 43.12.02 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 16.Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik, Kaiserslautern, 26.-30.September 2010
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