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Grating interferometer based phase-contrast imaging as an application to the dynamic processes study

Altapova, V.; Zienicke, B.; Butzer, J.; Rolo, T. d. S.; Vagovic, P.; Cecilia, A.; Moosman, J.; Ershov, A.; Reznikova, E.; Kenntner, J.; Mohr, J.; Lamparter, T.; Baumbach, T.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230080762
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erscheinungsvermerk 10th Biennial Conf.,on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP 2010), Warwick, GB, September 20-23, 2010
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