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Quantitative nanoscale analysis in 3D with electron tomography

Kübel, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230080789
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02)
Erscheinungsvermerk 17th Internat.Microscopy Congress (IMC 17), Rio de Janeiro, BR, September 19-24, 2010
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