Quantitative nanoscale analysis in 3D with electron tomography
Kübel, C.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230080789 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erscheinungsvermerk | 17th Internat.Microscopy Congress (IMC 17), Rio de Janeiro, BR, September 19-24, 2010 |