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Electron tomography of nanoparticles in Zn-doped GaAs semiconductors

Kübel, C.; Dieker, Ch.; Esser, D.; Penkalla, H.J.; Jäger, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230080795
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erscheinungsvermerk 17th Internat.Microscopy Congress (IMC 17), Rio de Janeiro, BR, September 19-24, 2010
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