Electron tomography of nanoparticles in Zn-doped GaAs semiconductors
Kübel, C.
; Dieker, Ch.; Esser, D.; Penkalla, H. J.; Jäger, W.
; Dieker, Ch.; Esser, D.; Penkalla, H. J.; Jäger, W.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230080795 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erscheinungsvermerk | 17th Internat.Microscopy Congress (IMC 17), Rio de Janeiro, BR, September 19-24, 2010 |