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Characterization of X-ray gratings with extreme aspect ratios for phase contrast imaging

Kenntner, J.; Grund, T.; Mohr, J.; Altapova, V.; Zanette, I.; Rack, A.; Weitkamp, T.; Ritter, A.; Chabior, M.; Willner, M.; Baumbach, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230082826
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erscheinungsvermerk ESRF (European Synchrotron Radiation Facility) Users' Meeting 2011, Grenoble, F, February 7-10, 2011
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