Characterization of X-ray gratings with extreme aspect ratios for phase contrast imaging

Kenntner, J.; Grund, T.; Mohr, J.; Altapova, V.; Zanette, I.; Rack, A.; Weitkamp, T.; Ritter, A.; Chabior, M.; Willner, M.; Baumbach, T.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230082826
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erscheinungsvermerk	ESRF (European Synchrotron Radiation Facility) Users' Meeting 2011, Grenoble, F, February 7-10, 2011