Characterization of X-ray gratings with extreme aspect ratios for phase contrast imaging
Kenntner, J.; Grund, T.; Mohr, J.; Altapova, V.
; Zanette, I.; Rack, A.; Weitkamp, T.; Ritter, A.; Chabior, M.; Willner, M.; Baumbach, T.
; Zanette, I.; Rack, A.; Weitkamp, T.; Ritter, A.; Chabior, M.; Willner, M.; Baumbach, T.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230082826 |
| HGF-Programm | 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics |
| Erscheinungsvermerk | ESRF (European Synchrotron Radiation Facility) Users' Meeting 2011, Grenoble, F, February 7-10, 2011 |