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Carrier transport in nanocrystalline field-effect transistors: impact of interface roughness and geometrical carrier trap

Okamura, K.; Hahn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230082886
HGF-Programm 43.12.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung DPG, Fachverband Halbleiterphysik, Dresden, 13.-18.März 2011 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.46(2011) HL 48.3 Materials Research Society Spring Meeting, San Francisco, Calif., April 25-29, 2011
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