Scanning force microscopy up to the millimeter scale
Förste, A.; Moosmann, M.; Rothenberger, M.; Meier, T.; Gröger, R.; Barczewski, M.
; Walheim, S.; Schimmel, T.
; Walheim, S.; Schimmel, T.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230082909 |
| HGF-Programm | 43.11.03 (POF II, LK 01) Molecular building blocks |
| Erscheinungsvermerk | Frühjahrstagung DPG, Fachverband Oberflächenphysik, Dresden, 13.-18.März 2011 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.46(2011) O 35.20 |