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Scanning force microscopy up to the millimeter scale

Förste, A.; Moosmann, M.; Rothenberger, M.; Meier, T.; Gröger, R.; Barczewski, M.; Walheim, S.; Schimmel, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230082909
HGF-Programm 43.11.03 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung DPG, Fachverband Oberflächenphysik, Dresden, 13.-18.März 2011 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.46(2011) O 35.20
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