XPS-Charakterisierung polymer-funktionalisierter Oberflächen

Bruns, M.; Barner-Kowollik, C.; Goldmann, A.; Tischer, T.; Trouillet, V.; Zydziak, N.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffprozesstechnik (IAM-WPT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2011
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 230083387
HGF-Programm	43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erscheinungsvermerk	16.Tagung Festkörperanalytik, Wien, 4.-6.Juli 2011