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Beyond imaging: analysing surface properties with dynamic force spectroscopy

Hölscher, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230083961
HGF-Programm 43.03.09; LK 01
Erscheinungsvermerk ASME 2011 Internat.Design Engineering Technical Conf.(IDETC) and Computers and Information in Engineering Conf. (CIE), Washington, D.C., August 28-31, 2011
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