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High aspect ratio X-ray optical components for improved X-ray imaging

Mohr, J.; Grund, T.; Kenntner, J.; Last, A.; Nazmov, V.; Simon, M.; Leuthold, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230084318
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 37th Internat.Conf.on Micro and Nano Engineering (MNE 2011), Berlin, September 19-23, 2011
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