High aspect ratio X-ray optical components for improved X-ray imaging

Mohr, J.; Grund, T.; Kenntner, J.; Last, A.; Nazmov, V.; Simon, M.; Leuthold, J.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230084318
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erscheinungsvermerk	37th Internat.Conf.on Micro and Nano Engineering (MNE 2011), Berlin, September 19-23, 2011