X-ray grating interferometry for imaging of natural and manmade materials

Weitkamp, T.; Zanette, I.; Bech, M.; Pfeiffer, F.; Schulz, G.; Müller, B.; Rutishauser, S.; David, C.; Kenntner, J.; Jensen, T. H.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230084627
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erscheinungsvermerk	Euromat 2011 : European Congress and Exhibition on Advanced Materials and Processes, Montpellier, F, September 12-15, 2011