KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

High-sensitivity phase imaging and tomography with X-ray grating interferometer

Zanette, I.; Rutishauser, S.; Bech, M.; Kenntner, J.; David, C.; Mohr, J.; Pfeiffer, F.; Weitkamp, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230085143
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erscheinungsvermerk 21st Internat.Congress on X-Ray Optics and Microanalysis (ICXOM21), Campinas, BR, September 5-8, 2011
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page