High-sensitivity phase imaging and tomography with X-ray grating interferometer

Zanette, I.; Rutishauser, S.; Bech, M.; Kenntner, J.; David, C.; Mohr, J.; Pfeiffer, F.; Weitkamp, T.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230085143
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erscheinungsvermerk	21st Internat.Congress on X-Ray Optics and Microanalysis (ICXOM21), Campinas, BR, September 5-8, 2011