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Tensile testing and in situ scanning electron microscopy of silicon nanowires for lithium-ion battery applications

Sedlmayr, A.; Boles, S.; Al-Obeidi, A.; Fitzgerald, E.; Kraft, O.; Thompson, C.; Mönig, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230085700
HGF-Programm 43.15.02 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Materials Research Society Fall Meeting, Boston, Mass., November 28 - December 2, 2011
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