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Kamerabasierte Optimierung thermischer Prozesse mit INSPECT pro control

Keller, H.B.; Matthes, J.; Seifert, R.; Waibel, P.; Schönecker, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230086402
HGF-Programm 34.02.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Vortr.: Fa.GESOTEC Industrial Technologies, Griesheim, 14.Februar 2012
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