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Deriving deformation mechanisms in nanocrystalline AuCu thin films from in situ synchrotron-based XRD and SEM tensile tests

Lohmiller, J.; Gruber, P.A.; Spolenak, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230086624
HGF-Programm 43.12.03; LK 01
Erscheinungsvermerk TMS 141st Annual Meeting and Exhibition, Orlando, Fla., March 11-15, 2012
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